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文献
J-GLOBAL ID：200902286599146485
整理番号：07A0067489
重イオン照射した0.2μm SOI論理セルにおけるSETパルス幅の直接測定
Direct Measurement of SET Pulse Widths in 0.2-μm SOI Logic Cells Irradiated by Heavy Ions
YANAGAWA Y.
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
HIROSE K.
(Japan Aerospace Exploration Agency, Kanagawa, JPN)
,
HIROSE K.
(Graduate Univ. Advanced Studies, Kanagawa, JPN)
,
SAITO H.
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
SAITO H.
(Japan Aerospace Exploration Agency, Kanagawa, JPN)
,
KOBAYASHI D.
(Japan Aerospace Exploration Agency, Kanagawa, JPN)
,
KOBAYASHI D.
(Graduate Univ. Advanced Studies, Kanagawa, JPN)
,
FUKUDA S.
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
FUKUDA S.
(Japan Aerospace Exploration Agency, Kanagawa, JPN)
,
ISHII S.
(Mitsubishi Heavy Ind. Ltd., Aichi, JPN)
,
TAKAHASHI D.
(Mitsubishi Heavy Ind. Ltd., Aichi, JPN)
,
YAMAMOTO K.
(Mitsubishi Heavy Ind. Ltd., Aichi, JPN)
,
KURODA Y.
(Mitsubishi Heavy Ind. Ltd., Aichi, JPN)
資料名：
IEEE Transactions on Nuclear Science
(IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻： 53 号： 6,Pt.1 ページ： 3575-3578 発行年： 2006年12月
JST資料番号： C0235A ISSN： 0018-9499 CODEN： IETNAE 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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