文献
J-GLOBAL ID:200902286734777547
整理番号:09A0278000
隣接信号線を考慮したオープン故障のテストパターンについて
On Tests to Detect Open faults with Considering Adjacent Lines
著者 (8件):
渡部哲也
(愛媛大 大学院)
,
高橋寛
(愛媛大 大学院)
,
樋上喜信
(愛媛大 大学院)
,
堤利幸
(明治大)
,
山崎浩二
(明治大)
,
四柳浩之
(徳島大 大学院)
,
橋爪正樹
(徳島大 大学院)
,
高松雄三
(愛媛大 大学院)
資料名:
電子情報通信学会技術研究報告
(IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻:
108
号:
431(DC2008 68-78)
ページ:
37-42
発行年:
2009年02月09日
JST資料番号:
S0532B
ISSN:
0913-5685
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
日本語 (JA)