文献
J-GLOBAL ID:200902287346515570
整理番号:05A0446492
トンネルバンドギャップ変調とゲート仕事関数エンジニアリングによる縦型トンネルFETのスケーリング
Scaling the Vertical Tunnel FET With Tunnel Bandgap Modulation and Gate Workfunction Engineering
著者 (3件):
BHUWALKA Krishna K.
(Univ. German Federal Armed Forces, Neubiberg, DEU)
,
SCHULZE Joerg
(Univ. German Federal Armed Forces, Neubiberg, DEU)
,
EISELE Ignaz
(Univ. German Federal Armed Forces, Neubiberg, DEU)
資料名:
IEEE Transactions on Electron Devices
(IEEE Transactions on Electron Devices)
巻:
52
号:
5
ページ:
909-917
発行年:
2005年05月
JST資料番号:
C0222A
ISSN:
0018-9383
CODEN:
IETDAI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)