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文献
J-GLOBAL ID:200902289224372711   整理番号:05A0565174

ゾルゲル法により得られたPb(Zr,Ti)O3薄膜:残留応力と電気特性

Sol-gel derived Pb(Zr,Ti)O3 thin films: Residual stress and electrical properties
著者 (4件):
ONG R.j.
( Univ. of Illinois at Urbana-Champaign, IL, USA)
BERFIELD T.a.
(Dep. of Theoretical and Applied Mechanics, Univ. of Illinois at Urbana-Champaign, IL, USA)
SOTTOS N.r.
(Dep. of Theoretical and Applied Mechanics, Univ. of Illinois at Urbana-Champaign, IL, USA)
PAYNE D.a.
( Univ. of Illinois at Urbana-Champaign, IL, USA)

資料名:
Journal of the European Ceramic Society  (Journal of the European Ceramic Society)

巻: 25  号: 12  ページ: 2247-2251  発行年: 2005年 
JST資料番号: E0801B  ISSN: 0955-2219  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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