文献
J-GLOBAL ID:200902289224372711
整理番号:05A0565174
ゾルゲル法により得られたPb(Zr,Ti)O3薄膜:残留応力と電気特性
Sol-gel derived Pb(Zr,Ti)O3 thin films: Residual stress and electrical properties
著者 (4件):
ONG R.j.
( Univ. of Illinois at Urbana-Champaign, IL, USA)
,
BERFIELD T.a.
(Dep. of Theoretical and Applied Mechanics, Univ. of Illinois at Urbana-Champaign, IL, USA)
,
SOTTOS N.r.
(Dep. of Theoretical and Applied Mechanics, Univ. of Illinois at Urbana-Champaign, IL, USA)
,
PAYNE D.a.
( Univ. of Illinois at Urbana-Champaign, IL, USA)
資料名:
Journal of the European Ceramic Society
(Journal of the European Ceramic Society)
巻:
25
号:
12
ページ:
2247-2251
発行年:
2005年
JST資料番号:
E0801B
ISSN:
0955-2219
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)