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文献
J-GLOBAL ID：200902290549152716
整理番号：03A0855024
GaN(0001)/HfO2界面のバンドオフセット測定
Band offset measurements of the GaN (0001)/HfO2 interface
COOK T E JR
(North Carolina State Univ., North Carolina)
,
FULTON C C
(North Carolina State Univ., North Carolina)
,
MECOUCH W J
(North Carolina State Univ., North Carolina)
,
DAVIS R F
(North Carolina State Univ., North Carolina)
,
LUCOVSKY G
(North Carolina State Univ., North Carolina)
,
NEMANICH R J
(North Carolina State Univ., North Carolina)
資料名：
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻： 94 号： 11 ページ： 7155-7158 発行年： 2003年12月01日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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