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文献
J-GLOBAL ID：200902291754369996
整理番号：05A0685969
低線形性入力信号を用いたヒストグラム試験によるADCのディジタル自己較正アルゴリズム
A Digital Self-Calibration Algorithm for ADCs Based on Histogram Test Using Low-Linearity Input Signals
JIN Le
(Iowa State Univ., IA, USA)
,
CHEN Degang
(Iowa State Univ., IA, USA)
,
GEIGER Randall
(Iowa State Univ., IA, USA)
資料名：
IEEE International Symposium on Circuits and Systems
(IEEE International Symposium on Circuits and Systems)
巻： 2005 Vol.2 ページ： 1378-1381 発行年： 2005年
JST資料番号： A0757A ISSN： 0271-4302 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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