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文献
J-GLOBAL ID：200902291765234570
整理番号：05A0745017
軟X線放射分光によって測定したCuInS2の上部価電子帯における局所部分状態密度:In5pの寄与の証拠
Local partial densities of states in CuInS2 upper valence band determined by soft-x-ray emission spectroscopy: Evidence for In 5p contribution
ZHANG L.
(Univ. Tuebingen, Tuebingen, DEU)
,
KONOVALOV I.
(Univ. Leipzig, Leipzig, DEU)
,
WETT D.
(Univ. Leipzig, Leipzig, DEU)
,
SCHULZE D.
(Univ. Leipzig, Leipzig, DEU)
,
SZARGAN R.
(Univ. Leipzig, Leipzig, DEU)
,
NAGEL M.
(Univ. Tuebingen, Tuebingen, DEU)
,
CHASSE T.
(Univ. Tuebingen, Tuebingen, DEU)
資料名：
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻： 98 号： 1 ページ： 013704.1-013704.4 発行年： 2005年07月01日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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