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文献
J-GLOBAL ID:200902291836459560   整理番号:08A0122452

LWM9000走査電子顕微鏡によるEUVマスクの精度性能と走査損傷の研究

A Study of precision performance and scan damage of EUV masks with the LWM9000 SEM
著者 (9件):
YONEKURA Isao
(Toppan Printing Co., Ltd., Saitama, JPN)
HAKII Hidemitsu
(Toppan Printing Co., Ltd., Saitama, JPN)
YOSHII Takashi
(Toppan Printing Co., Ltd., Saitama, JPN)
NEGISHI Yoshiyuki
(Toppan Printing Co., Ltd., Saitama, JPN)
OOHIRA Katsumi
(Toppan Printing Co., Ltd., Saitama, JPN)
KANAYAMA Koichirou
(Toppan Printing Co., Ltd., Saitama, JPN)
KAWASHITA Masashi
(Toppan Printing Co., Ltd., Saitama, JPN)
SAKATA Yo
(Toppan Printing Co., Ltd., Saitama, JPN)
TANAKA Keishi
(Toppan Printing Co., Ltd., Saitama, JPN)

資料名:
Proceedings of SPIE  (Proceedings of SPIE)

巻: 6730  号: Pt.3  ページ: 67305H.1-67305H.12  発行年: 2007年 
JST資料番号: D0943A  ISSN: 0277-786X  CODEN: PSISDG  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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