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文献
J-GLOBAL ID：200902294338386732
整理番号：06A0805345
安全スキャン 暗号チップのためのテスト用設計アーキテクチャ
Secure Scan: A Design-for-Test Architecture for Crypto Chips
YANG Bo
(Polytechnic Univ., NY, USA)
,
WU Kaijie
(Univ. Illinois, IL, USA)
,
KARRI Ramesh
(Polytechnic Univ., NY, USA)
資料名：
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
(IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems)
巻： 25 号： 10 ページ： 2287-2293 発行年： 2006年10月
JST資料番号： B0142C ISSN： 0278-0070 CODEN： ITCSDI 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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