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文献
J-GLOBAL ID：200902295164410589
整理番号：08A0224655
多重故障に関するBIST後の故障診断
Post-BIST Fault Diagnosis for Multiple Faults
TAKAHASHI Hiroshi
(Ehime Univ., Matsuyama-shi, JPN)
,
HIGAMI Yoshinobu
(Ehime Univ., Matsuyama-shi, JPN)
,
KADOYAMA Shuhei
(Ehime Univ., Matsuyama-shi, JPN)
,
TAKAMATSU Yuzo
(Ehime Univ., Matsuyama-shi, JPN)
,
YAMAZAKI Koji
(Meiji Univ., Tokyo, JPN)
,
AIKYO Takashi
(Semiconductor Technol. Academic Res. Center (STARC), Yokohama-shi, JPN)
,
SATO Yasuo
(Semiconductor Technol. Academic Res. Center (STARC), Yokohama-shi, JPN)
資料名：
IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)
(IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： E91-D 号： 3 ページ： 771-775 発行年： 2008年03月01日
JST資料番号： L1371A ISSN： 0916-8532 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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