文献
J-GLOBAL ID:200902295675508110
整理番号:09A0458565
定格1.7kVの4H-SiCパワー金属-酸化物-半導体電界効果トランジスタとショットキーバリヤーダイオードの評価
4H-SiC Power Metal-Oxide-Semiconductor Field Effect Transistors and Schottky Barrier Diodes of 1.7kV Rating
著者 (10件):
MIURA Naruhisa
(Mitsubishi Electric Corp., Hyogo, JPN)
,
YOSHIDA Shohei
(Mitsubishi Electric Corp., Hyogo, JPN)
,
NAKAO Yukiyasu
(Mitsubishi Electric Corp., Hyogo, JPN)
,
MATSUNO Yoshinori
(Mitsubishi Electric Corp., Hyogo, JPN)
,
KURODA Ken-ichi
(Mitsubishi Electric Corp., Hyogo, JPN)
,
WATANABE Shoyu
(Mitsubishi Electric Corp., Hyogo, JPN)
,
IMAIZUMI Masayuki
(Mitsubishi Electric Corp., Hyogo, JPN)
,
SUMITANI Hiroaki
(Mitsubishi Electric Corp., Hyogo, JPN)
,
YAMAMOTO Hidekazu
(Mitsubishi Electric Corp., Kumamoto, JPN)
,
OOMORI Tatsuo
(Mitsubishi Electric Corp., Hyogo, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics
(Japanese Journal of Applied Physics)
巻:
48
号:
4,Issue 2
ページ:
04C085.1-04C085.4
発行年:
2009年04月25日
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
CODEN:
JJAPB6
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)