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文献
J-GLOBAL ID：200902296820936114
整理番号：07A0875091
走査試験におけるキャプチャ電力低減のための新規のATPG手法
A Novel ATPG Method for Capture Power Reduction during Scan Testing
WEN Xiaoqing
(Kyushu Inst. Technol., Iizuka, JPN)
,
KAJIHARA Seiji
(Kyushu Inst. Technol., Iizuka, JPN)
,
MIYASE Kohei
(Kyushu Inst. Technol., Iizuka, JPN)
,
SUZUKI Tatsuya
(Kyushu Inst. Technol., Iizuka, JPN)
,
SALUJA Kewal K.
(Univ. Wisconsin-Madison, WI, USA)
,
WANG Laung-Terng
(SynTest Technol., Inc., CA, USA)
,
KINOSHITA Kozo
(Osaka Gakuin Univ., Suita, JPN)
資料名：
IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)
(IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： E90-D 号： 9 ページ： 1398-1405 発行年： 2007年09月01日
JST資料番号： L1371A ISSN： 0916-8532 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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