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文献
J-GLOBAL ID：200902296824299828
整理番号：07A0109374
SoC相互接続の将来動向
Future Trends in SoC Interconnect
FURBER Steve
(Univ. Manchester, Manchester, GBR)
資料名：
Proceedings of Technical Papers. 2005 IEEE VLSI-TSA International Symposium on VLSI Design, Automation & Test
(Proceedings of Technical Papers. 2005 IEEE VLSI-TSA International Symposium on VLSI Design, Automation & Test)
ページ： 295-298 発行年： 2005年
JST資料番号： K20050118 ISBN： 0-7803-9060-1 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 解説 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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