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文献
J-GLOBAL ID：200902296849203990
整理番号：05A0782370
隣接テストパターン生成を用いた決定論的遅延故障BIST
Deterministic Delay Fault BIST Using Adjacency Test Pattern Generation
NAMBA Kazuteru
(Chiba Univ., Chiba-shi, JPN)
,
ITO Hideo
(Chiba Univ., Chiba-shi, JPN)
資料名：
IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)
(IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： E88-D 号： 9 ページ： 2135-2142 発行年： 2005年09月01日
JST資料番号： L1371A ISSN： 0916-8532 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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