文献
J-GLOBAL ID:200902296927702248
整理番号:06A0225487
軟X線発光分光法により調べた(Pb,La)(Zr,Ti)O3薄膜の価電子帯の電子構造
Electronic Structure in the Valence Band of (Pb,La)(Zr,Ti)O3 Thin Films Probed by Soft-X-Ray Emission Spectroscopy
著者 (6件):
HIGUCHI Tohru
(Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN)
,
TSUKAMOTO Takeyo
(Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN)
,
HATTORI Takeshi
(Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN)
,
HONDA Yoshihisa
(Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN)
,
YOKOYAMA Shintaro
(Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN)
,
FUNAKUBO Hiroshi
(Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN)
資料名:
Transactions of the Materials Research Society of Japan
(Transactions of the Materials Research Society of Japan)
巻:
31
号:
1
ページ:
23-26
発行年:
2006年03月
JST資料番号:
L4468A
ISSN:
1382-3469
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)