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文献
J-GLOBAL ID：200902297182749910
整理番号：06A0655201
ビスマス層状構造誘電体における誘電特性の厚み依存性
Thickness dependence of dielectric properties in bismuth layer-structured dielectrics
TAKAHASHI Kenji
(Dep. of Innovative and Engineered Materials, Tokyo Inst. of Technol., 4259 Nagatsuta, Midori-ku, Yokohama 226-8502, JPN)
,
SUZUKI Muneyasu
(Dep. of Innovative and Engineered Materials, Tokyo Inst. of Technol., 4259 Nagatsuta, Midori-ku, Yokohama 226-8502, JPN)
,
KOJIMA Takashi
(Dep. of Innovative and Engineered Materials, Tokyo Inst. of Technol., 4259 Nagatsuta, Midori-ku, Yokohama 226-8502, JPN)
,
WATANABE Takayuki
(Dep. of Innovative and Engineered Materials, Tokyo Inst. of Technol., 4259 Nagatsuta, Midori-ku, Yokohama 226-8502 ...)
,
SAKASHITA Yukio
(TDK Corp., 570-2 Matsugashita, Minamihatori, Narita-shi, Chiba 286-8588, JPN)
,
KATO Kazumi
(National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., 2266-98 Anagahora, Shimoshidami, Moriyama-ku, Nagoya ...)
,
SAKATA Osami
(Materials Sci. Div., Japan Synchrotron Radiation Res. Inst. (JASRI)/SPring-8, Kouto, Mikazuki, Sayo, Hyogo 679-5198, JPN)
,
SUMITANI Kazushi
(Materials Sci. Div., Japan Synchrotron Radiation Res. Inst. (JASRI)/SPring-8, Kouto, Mikazuki, Sayo, Hyogo 679-5198, JPN)
,
FUNAKUBO Hiroshi
(Dep. of Innovative and Engineered Materials, Tokyo Inst. of Technol., 4259 Nagatsuta, Midori-ku, Yokohama 226-8502 ...)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 89 号： 8 ページ： 082901-082901-3 発行年： 2006年08月21日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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