文献
J-GLOBAL ID:200902299649115793
整理番号:09A0064042
Biナノワイヤの電子輸送における境界粗さの役割
Role of boundary roughness in the electronic transport of Bi nanowires
著者 (5件):
HUBER T. E.
(Howard Univ., Washington, DC 20059, USA)
,
NIKOLAEVA A.
(Inst. of Electronic Engineering and Industrial Technologies, ASM, Chisinau MD-2028, Moldova)
,
GITSU D.
(Inst. of Electronic Engineering and Industrial Technologies, ASM, Chisinau MD-2028, Moldova)
,
KONOPKO L.
(Inst. of Electronic Engineering and Industrial Technologies, ASM, Chisinau MD-2028, Moldova)
,
GRAF M. J.
(Dep. of Physics, Boston Coll., Chestnut Hill, Massachusetts 02467, USA)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
104
号:
12
ページ:
123704
発行年:
2008年12月15日
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)