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文献
J-GLOBAL ID：200902299721900743
整理番号：09A0759634
縮退故障用ATPGを用いた遷移故障の診断用テスト生成法
Diagnostic Test Generation for Transition Faults Using a Stuck-at ATPG Tool
樋上喜信
(愛媛大 大学院理工学研究科)
,
黒瀬洋介
(愛媛大 大学院理工学研究科)
,
大野智志
(愛媛大 大学院理工学研究科)
,
山岡弘典
(愛媛大 大学院理工学研究科)
,
高橋寛
(愛媛大 大学院理工学研究科)
,
清水良浩
(半導体理工学研究セ)
,
相京隆
(半導体理工学研究セ)
,
高松雄三
資料名：
電子情報通信学会技術研究報告
(IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 109 号： 95(DC2009 10-17) ページ： 19-24 発行年： 2009年06月12日
JST資料番号： S0532B ISSN： 0913-5685 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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