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文献
J-GLOBAL ID：201002000363626885
整理番号：80A0093111
イオンマイクロプローブ質量分析法と透過式電子顕微鏡法によるセレン合金薄膜の定量分析
Quantitative analysis of Se alloy thin films by ion-microprobe mass analysis and transmission electron microscopy.
LaFORCE R W
(Xerox Corp., NY)
,
JOHNSON J K
(Xerox Corp., NY)
資料名：
Proc Annu Conf Microbeam Anal Soc
(Microbeam Analysis)
巻： 14th ページ： 354-360 発行年： 1979年
JST資料番号： E0776B ISSN： 0278-1727 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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