文献
J-GLOBAL ID:201002002241540702
整理番号:80A0165579
メモリ特徴をは握するツールとしてのビット誤りマッピング
Bit failure mapping as a memory characterization tool.
著者 (2件):
NISSEN P
(Advanced Micro Devices, California)
,
MERKERT R J
(Merkert Assoc., Inc., N.J.)
資料名:
Dig Pap Semicond Test Conf
(Digest of Papers. Semiconductor Test Conference)
巻:
1979
ページ:
164-176
発行年:
1979年
JST資料番号:
E0211B
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)