文献
J-GLOBAL ID:201002003566587116
整理番号:80A0185535
電子チャネリングによる疲れ機構の研究
The study of fatigue mechanisms with electron channeling.
著者 (1件):
DAVIDSON D L
(Southwest Research Inst., Tex.)
資料名:
ASTM Spec Tech Publ (Am Soc Test Mater)
(ASTM Special Technical Publication (American Society for Testing and Materials))
号:
675
ページ:
254-275
発行年:
1979年
JST資料番号:
H0511A
CODEN:
ASTTA
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
文献レビュー
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)