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文献
J-GLOBAL ID：201002008506101461
整理番号：80A0403050
混合原子価系EuCu2Si2,YbCu2Si2およびSm4Bi3のX線吸収分光法による研究
X-ray absorption spectroscopic study of mixed valence systems EuCu2Si2, YbCu2Si2 and Sm4Bi3.
HATWAR T K
(Indian Inst. Technology)
,
NAYAK R M
(Indian Inst. Technology)
,
PADALIA B D
(Indian Inst. Technology)
,
GHATIKAR M N
(Indian Inst. Technology)
,
SAMPATHKUMARAN E V
(Tata Inst. Fundamental Research, India)
,
GUPTA L C
(Tata Inst. Fundamental Research, India)
,
VIJAYARAGHAVAN R
(Tata Inst. Fundamental Research, India)
資料名：
Solid State Commun
(Solid State Communications)
巻： 34 号： 8 ページ： 617-620 発行年： 1980年
JST資料番号： H0499A ISSN： 0038-1098 CODEN： SSCOA 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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