文献
J-GLOBAL ID:201002021546939103
整理番号:80A0076140
走査電子顕微鏡でのPN接合の研究において用いられる定理の任意形状,任意不均質物質への拡張
Extension of a theorem used in the investigation of P-N junctions with the scanning electron microscope to arbitrary geometries and arbitrarily inhomogeneous material.
著者 (1件):
Von ROOS O
(California Inst. Technology)
資料名:
Appl Phys Lett
(Applied Physics Letters)
巻:
35
号:
5
ページ:
408-409
発行年:
1979年
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLA
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)