文献
J-GLOBAL ID:201002028392246732
整理番号:80A0013026
半導体接合におけるトラップ熱電子放出の電場効果
Electric field effect on the thermal emission of traps in semiconductor junctions.
著者 (3件):
VINCENT G
(Lab. Physique de la Matiere Inst. National des sciences Appliqu<span style=text-decoration:overline>e ́</span>es de Lyon, France)
,
CHANTRE A
(Lab. Physique de la Matiere Inst. National des sciences Appliqu<span style=text-decoration:overline>e ́</span>es de Lyon, France)
,
BOIS D
(Lab. Physique de la Matiere Inst. National des sciences Appliqu<span style=text-decoration:overline>e ́</span>es de Lyon, France)
資料名:
J Appl Phys
(Journal of Applied Physics)
巻:
50
号:
8
ページ:
5484-5487
発行年:
1979年
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIA
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)