文献
J-GLOBAL ID:201002030334348651
整理番号:80A0111664
CODECは市販の試験システムで試験が可能である
CODEC’s can be tested on a commercially available test system.
著者 (2件):
LORANGER M
(Fairchild Test Systems Group, California)
,
MURANAGA K
(Fairchild Test Systems Group, California)
資料名:
Dig Pap Semicond Test Conf
(Digest of Papers. Semiconductor Test Conference)
巻:
1979
ページ:
SESSION 10,226-233
発行年:
1979年
JST資料番号:
E0211B
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
解説
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)