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文献
J-GLOBAL ID：201002030834120886
整理番号：80A0172714
電子ミクロプローブによる試料の特性化のために有効な統計的変数
Statistical parameters useful for characterizing samples by electron microprobe.
FRICKE W G Jr
(Alcoa Lab., PA)
,
GRAY G
(Alcoa Lab., PA)
資料名：
Proc Annu Conf Microbeam Anal Soc
(Microbeam Analysis)
巻： 14th ページ： 218-220 発行年： 1979年
JST資料番号： E0776B ISSN： 0278-1727 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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