文献
J-GLOBAL ID:201002032237466090
整理番号:80A0040094
高電圧電子顕微鏡検査による個別不一致転位の観測
Observation of individual misfit dislocations by high-voltage electron microscopy.
著者 (3件):
STRUNK H
(Max-Planck Inst. Metallforschung, Germany)
,
HAGEN W
(Max-Planck Inst. Metallforschung, Germany)
,
KOLBESEN B O
(Siemens AG, Germany)
資料名:
J Phys Colloq
(Journal de Physique. Colloque)
巻:
40
号:
C-6
ページ:
C6.213-C6.216
発行年:
1979年
JST資料番号:
A0743B
ISSN:
0449-1947
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
フランス (FRA)
言語:
英語 (EN)