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文献
J-GLOBAL ID：201002039200353940
整理番号：80A0196664
X線全外部反射-Bragg回折法 GaAs-Al界面の構造研究
X-ray total-external-reflection-Bragg diffraction: A structural study of the GaAs-Al interface.
MARRA W C
(Bell Lab., New Jersey)
,
EISENBERGER P
(Bell Lab., New Jersey)
,
CHO A Y
(Bell Lab., New Jersey)
資料名：
J Appl Phys
(Journal of Applied Physics)
巻： 50 号： 11 Pt 1 ページ： 6927-6933 発行年： 1979年
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIA 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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