文献
J-GLOBAL ID:201002051533373115
整理番号:80A0023685
電力消費の大きい集積回路に対する新しい周期性バイアスTHB試験
A new cyclic biased T.H.B. test for power dissipating IC’s.
著者 (4件):
AJIKI T
(Matsushita Electronics Corp.)
,
SUGIMOTO M
(Matsushita Electronics Corp.)
,
HIGUCHI H
(Matsushita Electronics Corp.)
,
KUMADA S
(Matsushita Electronics Corp.)
資料名:
Annu Proc Reliab Phys
(Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium)
巻:
17th
ページ:
118-126
発行年:
1979年
JST資料番号:
A0631A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)