文献
J-GLOBAL ID:201002052207179925
整理番号:80A0260711
軍事/航空宇宙の経験からの半導体試験についての教訓
Some lessons about semiconductor testing from the military/aerospace experience.
著者 (2件):
BLAKESLEE D A
(Lorlin Industries, Inc.)
,
DuBOIS J-P
(Lorlin Industries, Inc.)
資料名:
Autom Test Conf Sess No 1
(Conference Proceedings Automatic Testing Conference. Session No. 1 781023)
巻:
1978
ページ:
18-25
発行年:
1978年
JST資料番号:
K19780458
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)