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文献
J-GLOBAL ID：201002057104871377
整理番号：80A0080445
Ne(I)(73.6nm)光電子分光法で決定したNO+,X1Σ+(v′=0〜34)←NO,X2Π(v′′=0)遷移に対するイオン化エネルギーとNOイオン基底状態の分子定数
Ionization energy values for the transitions NO+,X1Σ+(υ’=0-34)←NO,X2Π(υ”=0) and molecular constants of nitric oxide ground ionic state, determined by Ne(I)(73.6nm) photoelectron spectroscopy.
NATALIS P
(Univ. Liege, Belgium)
,
COLLIN J E
(Univ. Liege, Belgium)
,
DELWICHE J
(Univ. Liege, Belgium)
,
CAPRACE G
(Univ. Liege, Belgium)
,
HUBIN M-J
(Univ. Liege, Belgium)
資料名：
J Electron Spectrosc Relat Phenom
(Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena)
巻： 17 号： 6 ページ： 421-423 発行年： 1979年
JST資料番号： D0266C ISSN： 0368-2048 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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