文献
J-GLOBAL ID:201002058741279313
整理番号:80A0322665
X線結像のための斜入射顕微鏡
A grazing incidence microscope for X-ray imaging applications.
著者 (1件):
SILK J K
(American Science and Engineering, Inc., Massachusetts)
資料名:
Ann New York Acad Sci
(Annals of the New York Academy of Sciences)
巻:
342
ページ:
116-129
発行年:
1980年
JST資料番号:
A0419A
CODEN:
ANYAA
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)