文献
J-GLOBAL ID:201002059916517278
整理番号:80A0111728
機能試験でパターンの測定件数を少くする方法
Techniques for reducing pattern count for functional testing.
著者 (1件):
MEGILL N
(Production Serv. Corp., Massachusetts)
資料名:
Dig Pap Semicond Test Conf
(Digest of Papers. Semiconductor Test Conference)
巻:
1979
ページ:
SESSION 5,90-94
発行年:
1979年
JST資料番号:
E0211B
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
解説
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)