文献
J-GLOBAL ID:201002065155541897
整理番号:80A0044682
同一転位の高電圧電子顕微鏡検査と走査電子顕微鏡検査(EBICモード)
High voltage electron microscopy and scanning electron microscopy (EBIC MODE) of the same dislocation.
著者 (4件):
HEYDENREICH J
(Inst. Festkoerperphysik und Elektronenmikroskopie der Akademie der Wissenschaften der D.D.R.)
,
BLUMTRITT H
(Inst. Festkoerperphysik und Elektronenmikroskopie der Akademie der Wissenschaften der D.D.R.)
,
GLEICHMANN R
(Inst. Festkoerperphysik und Elektronenmikroskopie der Akademie der Wissenschaften der D.D.R.)
,
JOHANSEN H
(Inst. Festkoerperphysik und Elektronenmikroskopie der Akademie der Wissenschaften der D.D.R.)
資料名:
J Phys Colloq
(Journal de Physique. Colloque)
巻:
40
号:
C-6
ページ:
C6.23-C6.26
発行年:
1979年
JST資料番号:
A0743B
ISSN:
0449-1947
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
フランス (FRA)
言語:
英語 (EN)