文献
J-GLOBAL ID:201002065994158993
整理番号:80A0015458
MOSとMNOS素子に関する電子ビーム誘導電流による研究
Electron-beam-induced-current investigations on MOS and MNOS devices.
著者 (1件):
HEZEL R
(Univ. Erlangen, West Germany)
資料名:
Solid-State Electron
(Solid-State Electronics)
巻:
22
号:
8
ページ:
735-742
発行年:
1979年
JST資料番号:
H0225A
ISSN:
0038-1101
CODEN:
SSELA
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)