文献
J-GLOBAL ID:201002066582991328
整理番号:80A0072713
LSI用マスクパターン解析システム(PAS-1)
A mask pattern analysis system for LSI (PAS-1).
著者 (2件):
YAMADA S
(Nippon Telegraph Telephone Public Corp., Tokyo)
,
WATANABE T
(Nippon Telegraph Telephone Public Corp., Tokyo)
資料名:
Proc IEEE Int Symp Circuits Syst
(IEEE International Symposium on Circuit Theory)
巻:
1979
ページ:
858-861
発行年:
1979年
JST資料番号:
A0757A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)