文献
J-GLOBAL ID:201002070364181460
整理番号:80A0181967
イオンビーム実験用薄膜の寿命
Lifetimes of thin films in ion beam experiments.
著者 (1件):
RAMSAY D
(Stanford Univ., California)
資料名:
Nucl Instrum Methods
(Nuclear Instruments & Methods)
巻:
167
号:
1
ページ:
41-44
発行年:
1979年
JST資料番号:
D0208A
ISSN:
0029-554X
CODEN:
NUIMA
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)