文献
J-GLOBAL ID:201002072594816475
整理番号:80A0099504
ヘリックス進行波回路のマイクロ波特性の測定
Measurement of microwave characteristics of helix traveling wave circuits.
著者 (1件):
LEGARRA J R
(Varian Assoc., Inc., CA)
資料名:
Tech Dig Int Electron Devices Meet
(International Electron Devices Meeting)
巻:
1979
ページ:
408-411
発行年:
1979年
JST資料番号:
C0829B
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)