文献
J-GLOBAL ID:201002075497679594
整理番号:80A0111668
新世代マイクロプロセッサの試験
Testing the new generation of microprocessors.
著者 (2件):
WOHLFARTH P
(Tektronix, Inc., Oregon)
,
SMITH D
(Tektronix, Inc., Oregon)
資料名:
Dig Pap Semicond Test Conf
(Digest of Papers. Semiconductor Test Conference)
巻:
1979
ページ:
SESSION 13,255-259
発行年:
1979年
JST資料番号:
E0211B
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
解説
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)