文献
J-GLOBAL ID:201002075911995720
整理番号:80A0120499
AIIBVI半導体化合物での格子欠陥のX線特性と電子顕微鏡特性について
On X-ray and electron microscopic characterization of lattice defects in AIIBVI semiconductor compounds.
著者 (4件):
AULEYTNER J
(Inst. Physics, Polish Academy Sciences)
,
LILIENTAL Z
(Inst. Physics, Polish Academy Sciences)
,
MIZERA E
(Inst. Physics, Polish Academy Sciences)
,
WARMIN ́SKI T
(Inst. Physics, Polish Academy Sciences)
資料名:
Phys Status Solide A
(Physica Status Solidi. A. Applied Research)
巻:
55
号:
2
ページ:
603-609
発行年:
1979年
JST資料番号:
D0774A
ISSN:
0031-8965
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
東ドイツ (DDR)
言語:
英語 (EN)