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J-GLOBAL ID：201002076379898709 整理番号：79A0003867

中程度のエネルギーのイオン散乱(MEIS)での半導体検出器を用いた表面層解析

Surface layer analysis by MEIS using a solid state detector.

著者 (6件)：

HOONHOUT D

KERKDIJK C B W

BHATTACHARYA R S

KERSTEN H H

TURKENBURG W C

SARIS F W

資料名：

Nucl Instrum Methods (Nuclear Instruments & Methods)

巻： 149 号： 1/3 ページ： 355-360 発行年： 1978年
JST資料番号： D0208A ISSN： 0029-554X CODEN： NUIMA 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：オランダ (NLD) 言語：英語 (EN)

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