文献
J-GLOBAL ID:201002081666079720
整理番号:80A0079691
アルミニウム-銅薄膜対の相互拡散のオージェ電子分光による研究
Investigation of interdiffusion in thin film couples of aluminum and copper by Auger electron spectroscopy.
著者 (3件):
SHEARER M P
(Carnegie-Mellon Univ., Pa)
,
BAUER C L
(Carnegie-Mellon Univ., Pa)
,
JORDAN A G
(Carnegie-Mellon Univ., Pa)
資料名:
Thin Solid Films
(Thin Solid Films)
巻:
61
号:
3
ページ:
273-279
発行年:
1979年
JST資料番号:
B0899A
ISSN:
0040-6090
CODEN:
THSFA
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
スイス (CHE)
言語:
英語 (EN)