文献
J-GLOBAL ID:201002082403562490
整理番号:80A0117706
MOSキャパシタでの熱刺激電流測定での界面状態と可動イオンからの測定防害の抑制
Suppression of measurement interferences from interface states and mobile ions in thermally stimulated current measurements in an MOS capacitor.
著者 (3件):
PHILLIPS W E
(National Bureau of Standards, Washington, D.C.)
,
KOYAMA R Y
(National Bureau of Standards, Washington, D.C.)
,
BUEHLER M G
(National Bureau of Standards, Washington, D.C.)
資料名:
J Electrochem Soc
(Journal of the Electrochemical Society)
巻:
126
号:
11
ページ:
1979-1981
発行年:
1979年
JST資料番号:
C0285A
ISSN:
0013-4651
CODEN:
JESOA
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)