文献
J-GLOBAL ID:201002087913441754
整理番号:80A0195067
HVEM(高圧電子顕微鏡)による引っ張り実験の最適条件
Optimum conditions for straining experiments in the HVEM.
著者 (2件):
MARTIN J L
(Lab. Optique Electronique du C.N.R.S., France)
,
KUBIN L P
(Lab. Optique Electronique du C.N.R.S., France)
資料名:
Phys Status Solide A
(Physica Status Solidi. A. Applied Research)
巻:
56
号:
2
ページ:
487-494
発行年:
1979年
JST資料番号:
D0774A
ISSN:
0031-8965
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
東ドイツ (DDR)
言語:
英語 (EN)