文献
J-GLOBAL ID:201002092756775302
整理番号:80A0124923
X線と電子放出ラインの化学シフトのSCF Xα SW計算とSiX4分子の緩和の性質
SCF Xα SW calculation of chemical shifts of X-ray and electron emission lines and relaxation properties of SiX4 molecules.
著者 (2件):
HARTMANN E
(Zentralinst. Isotopen- und Strahlenforschung der Akademie der Wissenschaften der DDR)
,
SZARGAN R
(Kar-Marx-Univ., GDR)
資料名:
Chem Phys Lett
(Chemical Physics Letters)
巻:
68
号:
1
ページ:
175-178
発行年:
1979年
JST資料番号:
B0824A
ISSN:
0009-2614
CODEN:
CHPLB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)