文献
J-GLOBAL ID:201002093738240937
整理番号:80A0072623
自動アナログテスト設計の現状
Overview of current automated analog test design.
著者 (1件):
PLICE W A
(Honeywell Inc., Minnesota)
資料名:
Dig Pap Semicond Test Conf
(Digest of Papers. Semiconductor Test Conference)
巻:
1979
ページ:
128-136
発行年:
1979年
JST資料番号:
E0211B
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
解説
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)