文献
J-GLOBAL ID:201002094917092424
整理番号:80A0072478
テスタビリティ解析
Testability analysis.
著者 (1件):
KOVIJANIC P G
(Sperry Research Center, MA.)
資料名:
Dig Pap Semicond Test Conf
(Digest of Papers. Semiconductor Test Conference)
巻:
1979
ページ:
310-316
発行年:
1979年
JST資料番号:
E0211B
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)