文献
J-GLOBAL ID:201002095846564881
整理番号:80A0181982
けい光X線較正用薄膜標準物質
Thin film X-ray fluorescence calibration standards.
著者 (2件):
HEAGNEY J M
(MicroMatter Co., Washington)
,
HEAGNEY J S
(MicroMatter Co., Washington)
資料名:
Nucl Instrum Methods
(Nuclear Instruments & Methods)
巻:
167
号:
1
ページ:
137-138
発行年:
1979年
JST資料番号:
D0208A
ISSN:
0029-554X
CODEN:
NUIMA
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)