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文献
J-GLOBAL ID：201002099097461901
整理番号：80A0072630
ゲートと機能モデルによって記述されたディジタル回路のシミュレーションと同時故障シミュレーションプログラム
A program for the simulation and concurrent fault simulation of digital circuits described with gate and functional models.
SCHULER D M
(GTE Lab. Inc., Massachusetts)
,
BAKER T E
(GTE Lab. Inc., Massachusetts)
,
FISHER R S
(GTE Lab. Inc., Massachusetts)
,
HIRSCHHORN S S
(GTE Lab. Inc., Massachusetts)
,
HOMMEL M B
(GTE Lab. Inc., Massachusetts)
,
McGINNESS H J
(GTE Lab. Inc., Massachusetts)
,
BOSSLET R V
(GTE Lab. Inc., Massachusetts)
資料名：
Dig Pap Semicond Test Conf
(Digest of Papers. Semiconductor Test Conference)
巻： 1979 ページ： 203-207 発行年： 1979年
JST資料番号： E0211B 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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