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文献
J-GLOBAL ID：201002200537663555
整理番号：10A0626954
超薄有機ナノ複合体膜研究のためのエリプソメトリとX線関連技法を結合した方法
Combined ellipsometry and X-ray related techniques for studies of ultrathin organic nanocomposite films
KRAEMER Markus
(Leibniz-Institut fuer Analytische Wissenschaften-ISAS-e.V., Bunsen-Kirchhoff-Str. 11, 44139 Dortmund, DEU)
,
KRAEMER Markus
(AXO DRESDEN GmbH, Siegfried-Raedel-Str. 31, 01809 Heidenau, DEU)
,
ROODENKO Katy
(Leibniz-Institut fuer Analytische Wissenschaften-ISAS-e.V.-Department Berlin, Albert-Einstein-Str. 9, 12489 Berlin, DEU)
,
ROODENKO Katy
(Lab. for Surface and Nanostructure Modification, Univ. of Texas at Dallas-NSERL, 800W. Campbell Rd., Richardson, TX ...)
,
POLLAKOWSKI Beatrix
(Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Abbestr. 2-12, 10587 Berlin, DEU)
,
HINRICHS Karsten
(Leibniz-Institut fuer Analytische Wissenschaften-ISAS-e.V.-Department Berlin, Albert-Einstein-Str. 9, 12489 Berlin, DEU)
,
RAPPICH Joerg
(Helmholtz-Zentrum Berlin fuer Materialien und Energie GmbH, Abt. Silizium-Photovoltaik, Kekulestr. 5, 12489 Berlin, DEU)
,
ESSER Norbert
(Leibniz-Institut fuer Analytische Wissenschaften-ISAS-e.V.-Department Berlin, Albert-Einstein-Str. 9, 12489 Berlin, DEU)
,
VON BOHLEN Alex
(Leibniz-Institut fuer Analytische Wissenschaften-ISAS-e.V., Bunsen-Kirchhoff-Str. 11, 44139 Dortmund, DEU)
,
HERGENROEDER Roland
(Leibniz-Institut fuer Analytische Wissenschaften-ISAS-e.V., Bunsen-Kirchhoff-Str. 11, 44139 Dortmund, DEU)
資料名：
Thin Solid Films
(Thin Solid Films)
巻： 518 号： 19 ページ： 5509-5514 発行年： 2010年07月30日
JST資料番号： B0899A ISSN： 0040-6090 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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